CSPM5500P扫描探针显微镜/原子力显微镜Logo 

精确定位扫描探针显微镜

 cspm5500pIns.jpg   光学显微镜图.jpgcspm5500zl.jpg

  • 具有完全自主知识产权的扫描探针检测头超薄结构设计,可与高分辨光学显微镜联用
  • 系统功能集成了原子力显微镜、横向力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、压电响应力显微镜、扫描开尔文探针显微镜和纳米加工等功能
  • 具有接触模式、轻敲模式、相移成像模式、横向力(摩擦力)模式、抬起模式等多种工作模式和力-距离(F-Z)曲线、振幅-距离(RMS-Z)曲线、相移-距离(Phase-Z)曲线、摩擦力回路曲线、摩擦力载荷曲线、摩擦力恒载荷等测量分析功能
  • 超高分辨辅助光学显微定位,实时观测与精确定位探针以及样品扫描区域
  • 一次扫描技术,图像分辨高达4096×4096物理象素,微米级扫描即可得到纳米级的实际信息
  • 控制系统采用TI的DSP+RAM双核信号处理器,内置二代的实时操作系统spm/DNA,全数字控制
  • 先进PID反馈算法实现快速高精度作用力控制,确保系统在高速扫描中稳定成像,实际扫描速度提升一个数量级,多重针尖保护技术,有效延长探针使用寿命
  • 系统采用10M/100M快速以太网(Fast Ethernet 10/100)或USB3.0与计算机连接
  • 主控机箱前面板具有16×4液晶显示屏,实时显示系统当前状态
  • 具备实时在线三维图像显示功能,便于用户在检测过程中随时直观获得样品信息
  • 具有简体、繁体和英文三种语言版本的在线控制软件和后处理分析软件,基于最新Windows 系统开发,兼容Windows11/10/8/XP/2000/NT/9X全系列操作系统
  • 具备双向扫描(Trace-Retrace)、往返扫描、线扫描等多种扫描模式,并具备自动更新扫描图像亮度、对比度功能

技术参数

  • 系统功能:原子力显微镜、横向力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、压电响应力显微镜、扫描开尔文探针显微镜和纳米加工等功能
  • 工作模式:接触模式、轻敲模式、相移模式、抬起模式(支持磁力和静电力模式)、纳米加工(图形化刻蚀、压痕/机械刻画,矢量扫描)
  • 样品尺寸:直径35mm / 厚度40mm
  • 进针模式:一键式全自动探针逼近,逼近精度:50nm/step
  • 扫描范围:20um×20um,80um×80um(大范围扫描器)
  • 光学显微镜:多物镜正置光学显微镜,配置5×/ NA 0.14、20×/ NA0.34、50×/ NA0.5(选配)长焦物镜,分辨率0.8um