nanosensors原子力探针及标准样品

NanoSensors原子力探针/标样

NanoSensors由原IBM公司的纳米技术专家Oladf Wolter博士于1991年创建。NanoSensors公司是世界上重要的面对全球提供高品质原子力AFM探针的厂家。

NanoSensors出产的针尖曲率半径小于10nm的原子力AFM硅探针,对世界上许多重大的科学成果贡献良多。在多年间,NanoSensors不断创新技术,扩展了AFM探针的种类,并获得多个国际奖项。

2002年,NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集团,继续坚持为全球研究者提供最高品质的原子力探针。

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NanoSensors常用的产品

PPP-NCHR

PPP-NCHR原子力探针

轻敲模式/非接触模式探针,每个基片有一个长方形悬臂,共振频率330kHz,弹性系数42N/m,针尖曲率半径<10nm,背面镀铝反射层。

PPP-CONTR

PPP-CONTR原子力探针

接触模式探针,每个基片有一个长方形悬臂,共振频率13kHz,弹性系数0.2N/m,针尖曲率半径<10nm,背面镀铝反射层。

PPP-MFMR

PPP-MFMR原子力磁性探针

用于磁力显微镜测量,每个基片有一个长方形悬臂,共振频率75kHz,弹性系数2.8N/m,针尖曲率半径<50nm,针尖镀硬磁性材料镀层。

NanoSensors产品概览

PointProbe Plus (PPP)系列——常用探针

PPP系列原子力探针

PointProbe Plus系列探针为NanoSensors的最被广泛使用的探针,适用于大部分的应用及商品化的AFM。
PointProbe Plus系列探针的针尖典型曲率半径为小于7nm,可实现高分辨率的应用。整个系列保证了高品质及高稳定性。

SuperSharp Silicon (SSS)系列——超尖探针

SSS超尖原子力探针

SuperSharp Silicon系列探针使用特别的针尖制作技术生产,专门为超高分辨的成像所设计。
SuperSharp Silicon系列探针的针尖典型曲率半径为小于2nm,实现超高分辨率的应用。整个系列保证了高品质及高稳定性。

High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列——高长径比探针

AR高长径比原子力探针

AR系列探针专门为测量具有大长径比或垂直台阶结构的样品而设计。
AR系列探针具有接近垂直的针尖,总体针尖长度达到10-15um,针尖的曲率半径小于5度(AR10小于2.8度)。

Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列——金刚石镀层探针

金刚石镀层原子力探针

DT(金刚石)和CDT(导电金刚石)系列探针适用于针尖与样品之间需要大接触力的情况,同样也应用于摩擦力测量、样品弹性测量等。

MFM——磁力显微镜探针

磁力显微镜探针

多种规格(硬磁或软磁)的磁力显微镜探针专门为不同的材料及应用而设计。所有探针的磁性镀层,均具有优越的稳定性。

Carbon Nanotube (CNT)系列——碳纳米管探针

碳纳米管原子力探针

Carbon Nanotube探针是专门为需要超高分辨率、高速扫描及弱探针-样品作用力的应用而设计的。
碳纳米管探针使用化学沉积的方法,在PPP系列针尖的最尖端处,生长出碳纳米管,从而具有最小的针尖曲率半径、超高的长径比及极佳的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探针中,能获得最高的分辨率。

AdvancedTEC (ATEC)系列——可视化探针

ATEC'可视化原子力探针

AdvancedTEC系列探针,在悬臂的最边缘处具有四面体形状的针尖。这种独有的技术使得ATEC系列探针可以从上方观察到针尖的探针,从而使得用户可以获得精确的针尖-样品定位。

Plateau (PL)系列

Plateau系列原子力探针

Plateau系列探针,使用离子束切割技术,将传统锥形的针尖弄钝,在针尖处形成一个直径为1.8μm的圆形平台,为用户的特殊应用提供了个性化的探针。

Transfer Standards /Calibration Standards 标准样品

原子力标准样品

NanoSensors提供的高精度标准样品包括:

  1. 二维正交标准样品:周期分别为100nm、200nm和300nm。
  2. 高度标准样品:台阶高度为8nm。
  3. 粗糙度标准样品:100um以内的峰峰值小于10nm。  

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