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專家介紹

吳浚瀚,總工程師。

我國第一批從事掃描探針顯微學研究和開發的科技人員之一。

1993年與白春禮院士一道研製成功我國第一台鐳射檢測原子力顯微鏡(AFM),並獲得雲母和石墨晶體的晶格圖像,鐳射檢測原子力顯微鏡(AFM)是目前應用最為廣泛的掃描探針顯微技術。

1999年起至今,任本原公司總工。主持掃描探針顯微鏡儀器及相關技術的研究開發工作,先後研製了本原CSPM全系列掃描探針顯微鏡(SPM),並進行量產,迄今累計銷售數百台,並出口到美國、日本、新加坡和臺灣、香港、澳門等地區。儀器總銷量、佔有率、出口總量均為國內第一。研製的CSPM4000型儀器,集成了掃描隧道(STM)、原子力(AFM)、摩擦力(LFM)、靜電力(EFM)、磁力顯微鏡(MFM),該儀器為“國內同類設備的最好水準”(2005123863專家組驗收結論)。

累計主持和承擔國家和地方科研項目數十項,現主持科技部國家高技術發展計畫(863計畫)一項(專案負責人,項目名稱:《電化學原子力顯微鏡系統的研製》,課題編號:2006AA03Z354)

 

相關論文

鐳射檢測原子力顯微鏡的研製,吳浚瀚,白春禮等,科學通報,389),7901993

雲母和石墨表面結構的鐳射檢測原子力顯微鏡研究,吳浚瀚,白春禮等,科學通報,3810),9041993

開放式多功能掃描探針顯微鏡系統,吳浚瀚,楊德亮,吳浚泓,袁偉華,黃桂珍,白春禮,現代科學儀器,2362003

 

 黃桂珍,總檢驗師。

我國第一批從事掃描探針顯微學研究和開發的科技人員之一。

1988年與白春禮院士一道研製成功我國第一台電腦控制的掃描隧道顯微鏡(STM),此後,一直從事掃描探針顯微學的研究開發。參與研製我國的第一台原子力顯微鏡(AFM)、鐳射檢測的原子力顯微鏡(Laser-AFM)、摩擦力顯微鏡(LFM)、低溫掃描隧道顯微鏡(Low-Temperature)等一系列掃描探針顯微鏡(SPM),獲國家科技進步二、三等獎各一項、科學院二等獎一項、國家教委科技進步二等獎一項。

1989年起,任本原公司總工程師,1999年起至今任本原公司總檢驗師。

 

相關論文

電腦控制的掃描隧道顯微鏡,黃桂珍,白春禮等,物理,18(6),361(1989)

石墨晶體的高分辨掃描隧道顯微象,黃桂珍,白春禮等,化學通報,10,38(1988)

STM 資料獲取分析電腦系統,白春禮,戴長春,黃桂珍等,物理化學學報,5(1),3(1989)

多功能掃描探針顯微鏡的設計與實現,戴長春,黃桂珍,張新文,施倪承儀器儀錶學報,17(1),269(1996)

鐳射檢測原子力顯微鏡的改進――振盪工作模式,徐海,韓寶善,戴長春,黃桂珍,真空科學與技術,19(1),1(1999)

 
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