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  掃描探針顯微鏡系統

   

 

環境檢測及控制掃描探針顯微鏡顯微鏡

磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

精益求精、信心之選

CSPM5500掃描探針顯微鏡工作模式簡介

液相掃描探針顯微鏡

納米加工

 

國際主流的研究級專業儀器,集成原子力顯微鏡(AFM),橫向力顯微鏡(LFM),掃描隧道顯微鏡(STM)

解析度:
 

原子力顯微鏡:橫向0.2nm,垂直0.1nm(以雲母晶體標定)

掃描隧道顯微鏡:橫向0.1nm,垂直0.01nm(以石墨晶體標定)

高精度計量型儀器,採用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權威機構Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的標準樣品進行校準

一鍵式快速全程全自動進樣,無需手動預調,行程大於30mm,可容納超大樣品

兩級可讀數樣品調節機構,可對樣品進行精確的檢測區域定位

一次掃描技術,圖像分辨高達4096×4096物理象素,微米級掃描即可得到納米級的實際資訊

先進PID回饋演算法實現快速高精度作用力控制,確保系統在高速掃描中穩定成像,實際掃描速度提升一個數量級

系統採用10M/100M快速乙太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0與電腦連接

主控機箱前面板具有16×4液晶顯示幕,系統當前狀態即時顯示

具備即時線上三維圖像顯示功能,便於用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品資訊

 

系統功能

標準配置:
原子力顯微鏡(AFM):包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
橫向力顯微鏡(LFM):具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力皒荷曲線等摩擦學性能分析測量功能
掃描隧道顯微鏡(STM):包括甯y模式、痚盲狾﹛BI-V曲線、I-Z曲線等
曲線測量分析功能:力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等

選配功能:
納米加工:包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、向量掃描模式、DPN浸潤筆模式等;
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡;
環境控制掃描探針顯微鏡;
液相掃描探針顯微鏡;
導電原子力顯微鏡;
掃描探針聲學顯微鏡;
掃描開爾文探針顯微鏡;
掃描電容顯微鏡;
壓電力顯微鏡

 
 

CSPM5500宣傳畫冊(PDF格式)

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